テクニカルノート

データ構造化システム(RDE)/ データリファレンスガイド

 

データ構造化システム(RDE)

 

データ構造化システムとは

データ構造化システム(アプリケーション名:RDE)は、物質・材料についての研究データをオンラインで迅速に登録するために物質・材料研究機構(NIMS)が開発したデータ基盤システムです。

装置からの生データを登録すると自動的にデータ駆動型のマテリアル研究に適した形に構造化してクラウドに蓄積します。

RDEロゴ

ARIM事業では本RDEを活用し、全国25機関の共用装置からのデータを機器利用者の同意があったデータに限り、第三者に使いやすい形で構造化・蓄積しています。

 

 

 

データリファレンスガイド

 

データリファレンスガイドとは

材料研究における新たなアプローチとして、データ駆動型材料研究が注目されています。この手法は、大量のデータを活用し、材料の特性や挙動を解析・予測するもので、従来の実験や理論に基づく研究に加え、データの力を活用して研究の効率化や新材料の発見を目指すものです。

ARIMでは各メーカーの装置ごとに、推奨される測定方法や記録項目のガイダンスとなる「データリファレンスガイド」を作成いたしました。このガイドに基づいて取得されたデータは、異なる装置で得たデータとも統合しやすく、データ駆動型材料研究の基盤として役立つことが期待されます。

 

リファレンスガイド表紙

 

データリファレンスガイド(リーフレット)
装置の種類 装置メーカー ダウンロートリンク

走査電子顕微鏡

(SEM)

日立ハイテク編

ARIM-Reference-Guide_Hitachi_SEM

[PDF形式/25.47MB]

X線光電子分光

(XPS)

アルバックファイ編

ARIM-Reference-Guide_UlvacPHI_XPS

[PDF形式/25.86MB]

日本電子編

(vmsフォーマット)

ARIM-Reference-Guide_JEOL_XPS

[PDF形式/27.04MB]

粉末X線回折

(PXRD)

リガク編

ARIM-Reference-Guide_Rigaku_XRD

[PDF形式/26.26MB]

大気中光電子収量分光(PYSA) 理研計器編

ARIM-Reference-Guide_Rikenkeiki_PYSA

[PDF形式/24.51MB]

 

なお、本リファレンスガイドはマテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)に参画する機関が保有する装置に限って作成されており、限定された装置のみに適用されます。