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doiレーザー顕微鏡によるPTAAのラマン分光
課題名:
阪大 産研 スタッフデータ 2025
課題番号:
JPMXP1225OS9001
ファイル数:
24
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-127:レーザーラマン顕微鏡
登録日:
2026.3.3
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レーザー顕微鏡によるPTAAのラマン分光
doiトライボフィルム断面のSTEM-EDS分析
課題名:
ナノ構造評価技術開発
課題番号:
JPMXP1225NM2102
ファイル数:
80
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-502:実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
NM-517:FIB/SEM精密微細加工装置(Helios 650)
登録日:
2026.3.3
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Tribofilm-1-1
i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_Process flow
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
プロセスフロー
登録日:
2026.2.25
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i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_Wet cleaning_etch
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-211:プラズマクリーナー
TU-002:有機ドラフトチャンバー
TU-004:スピン乾燥機
TU-315:断面SEM
登録日:
2026.2.25
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i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_RIE
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
27
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-206:アルバックICP-RIE#2
登録日:
2026.2.25
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i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_Lithography
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-062:コータデベロッパ
TU-063:i線ステッパ
TU-060:現像ドラフト
登録日:
2026.2.25
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i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_Evaporation
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-167:電子ビーム蒸着装置
登録日:
2026.2.25
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i線ステッパ露光パターンエッチングおよびパターンサイズ1.0μm以下へのアルミ配線形成状況_CVD
課題名:
アルミ配線(線幅1.0μm以下)及び絶縁膜(TEOS膜)の形成
課題番号:
JPMXP1225TU5004
ファイル数:
39
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-154:住友精密TEOS PECVD
TU-302:膜厚計
登録日:
2026.2.25
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doiArイオンビームミリング法によるピラー加工形状の基板傾斜角による違いと時間変化
課題名:
SiO2のドライエッチング
課題番号:
JPMXP1225NM2010
ファイル数:
79
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-669:イオンビームミリング複合装置 [16IBE-NIMS_SS]
登録日:
2026.2.24
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Φ2000nm.png
doiイオンビームミリングによるAu薄膜加工
課題名:
イオンビームミリングによるAu薄膜加工
課題番号:
JPMXP1225NM2016
ファイル数:
78
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-669:イオンビームミリング複合装置 [16IBE-NIMS_SS]
登録日:
2026.2.24
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Au_ZPN_レジストあり_Tilt_45deg_×1.0k_04
doi成膜装置による膜特性の差異確認(2022年度:PD-220)
課題名:
成膜装置による膜特性の差異確認
課題番号:
JPMXP1222WS0004
ファイル数:
32
実施機関:
早稲田大学
装置・プロセス:
WS-030:プラズマCVD装置
登録日:
2026.2.19
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Fig.1 P-CVD SiO2 Breakdown voltage(MV/cm)
マイクロギアの試作_DRIE
課題名:
マイクロギアの試作
課題番号:
JPMXP1224GA0121
ファイル数:
4
実施機関:
香川大学
装置・プロセス:
登録日:
2026.2.19
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SQUID(MPMS-XL7)によるキラル磁性体の磁気物性測定
課題名:
キラル磁性体の磁気物性
課題番号:
JPMXP1222MS1047
ファイル数:
23
実施機関:
自然科学研究機構
装置・プロセス:
MS-219:SQUID(MPMS-XL7)
登録日:
2026.2.18
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PEAFeC_b_m5tfcmh10k
Ni-GaAsの原子分解能STEM像
課題名:
化合物半導体デバイスの分析
課題番号:
JPMXP1223OS0013
ファイル数:
6
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-003:200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
登録日:
2026.2.18
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thumbnail_c90410ac-b615-451a-8616-4f7b9c86787c
積層配線_Au120_Pt170_Ti30_processflow_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
プロセスフロー
登録日:
2026.2.16
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積層配線_Au120_Pt170_Ti30_lithography_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
6
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-069:両面アライナ(8")
TU-060:現像ドラフト
TU-211:プラズマクリーナー
TU-306:Tencor 段差計
TU-308:デジタル顕微鏡
登録日:
2026.2.16
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積層配線_Au120_Pt170_Ti30_cleaning_liftoff_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
11
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-001:エッチングチャンバー
TU-002:有機ドラフトチャンバー
登録日:
2026.2.16
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積層配線_Au220_Pt50_Ti40_processflow_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
プロセスフロー
登録日:
2026.2.16
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積層配線_Au220_Pt50_Ti40_lithography_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
6
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-069:両面アライナ(8")
TU-060:現像ドラフト
TU-211:プラズマクリーナー
TU-306:Tencor 段差計
TU-308:デジタル顕微鏡
登録日:
2026.2.16
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積層配線_Au220_Pt50_Ti40_sputtering_
課題名:
リフトオフプロセスによるAuPtTi配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5022
ファイル数:
4
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-159:芝浦スパッタ装置(冷却型)
TU-320:4探針測定装置
登録日:
2026.2.16
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