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提供開始しているサービス
試作
- 単体FET試作(GaN、酸化物など)
- 2D半導体(グラフェン、MoS2など)
- 太陽電池(Si、ペロブスカイトなど)
- 有機半導体(トランジスタ、EL、太陽電池など)
評価
- 透過型電子顕微鏡(STEM-EDX/EELS, TEM-EDS)によるデバイス材料界面などの微細構造評価
- 多機能顕微鏡(FESEM-EDX/EBSD/EBIC, SAM, AFM)によるデバイス表面の微細構造評価
- 分光装置(XPS, PYS)による有機半導体材料などの電子準位および仕事関数の評価
- 質量分析計による有機半導体薄膜の劣化メカニズムの評価
今後提供予定のサービス
評価
- FIB-SEM-EDXによるデバイス加工および評価(2026年4月頃~)