日時
2025年7月31日（木）14:00-15:30
場所
東京大学 武田先端知ビル1階（浅野キャンパス） 102号セミナー室
主催
東京大学マテリアル先端リサーチ・データハブ拠点微細加工部門
定員
40名（現地開催のみ）
参加費
無料（要事前登録）
参加申し込み
Webフォーム https://forms.gle/CFTojP6t9XVCGzDy5
申込締切：7月31日（木）正午（定員になり次第締切）
概要
AFMによる測定についてブルカージャパン(株)のエンジニアの方に講演いただきます。特に形状測定を目的とされる方にお勧めです。
詳細
講師：ブルカージャパン(株) 寺山 剛司 氏
内容：
・AFMで形状測定するときの注意点
・ハイアスペクトサンプル測定について
・微小凹凸について
・事前ご質問受付への回答（アンケートへご質問をご記入ください）
お問い合わせ
東京大学ARIM微細加工部門 太田 悦子
E-mail：ohta(at)if.t.u-tokyo.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
ホームページ
[URL] https://nanotechnet.t.u-tokyo.ac.jp/index.html
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。