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物質・材料研究機構 (15)　 東北大学 (5)　 東京大学 (1)　 名古屋大学 (5)　 京都大学 (1)　 九州大学 (2)　 産業技術総合研究所 (17)　 北海道大学 (8)　 東京科学大学（旧東京工業大学） (2)　 量子科学技術研究開発機構 (3)　 名古屋工業大学 (12)　 自然科学研究機構 (4)　 電気通信大学 (0)　 筑波大学 (2)　 豊田工業大学 (7)　 香川大学 (1)　 広島大学 (0)　 日本原子力研究開発機構 (3)　 公立千歳科学技術大学 (0)　 北陸先端科学技術大学院大学 (16)　 早稲田大学 (7)　 大阪大学 (7)　 奈良先端科学技術大学院大学 (2)　 山形大学 (2)　 信州大学 (1)　

重要技術領域からさがす

高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル (30)　 革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル (16)　 量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル (39)　 マテリアルの高度循環のための技術 (24)　 次世代バイオマテリアル (21)　 次世代ナノスケールマテリアル (11)　 マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル (12)　

横断技術領域からさがす

計測・分析 (55)　 加工・デバイスプロセス (44)　 物質・材料合成プロセス (24)　

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質量分析 (4)　 クロマトグラフ (2)　 磁気共鳴 (6)　 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） (18)　 表面分析（深さ方向元素分析を含む） (3)　 回折・散乱 (7)　 バイオ装置 (0)　 熱分析装置 (0)　 光学顕微鏡 (5)　 透過電子顕微鏡 (16)　 走査型顕微鏡 (11)　 微小加工装置 (3)　 膜厚・粒度測定 (3)　 成膜装置 (25)　 成形装置 (0)　 リソグラフィ (6)　 膜加工・エッチング (7)　 熱処理・ドーピング (0)　 その他加工装置 (0)　 合成設備 (1)　 組立・パッケージング (0)　 表面処理・洗浄 (1)　 機械特性 (2)　 デバイス特性 (5)　 磁気特性 (3)　 電気化学 (1)　 理論計算・シミュレーション (0)　 プロセスフロー (1)　

マテリアルインデックスからさがす

デバイス・センサー関連材料 (23)　 エネルギー関連材料 (9)　 バイオ関連材料 (4)　 高分子材料 (5)　 無機系材料・物質群 (29)　 金属系構造材料 (4)　 磁性材料 (0)　 量子・電子材料・物質群 (9)　 ナノ・低次元材料・物質群 (17)　 特殊用途物質群 (6)　

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AES (4)　 AFM (4)　 ALD (14)　 alloy (1)　 Au (0)　 BCDI (1)　 BL11XU (1)　 BL14B1 (3)　 BL22XU (1)　 CISS (0)　 coherent-Xrays (1)　 COP (1)　 Cr (0)　 Cu (0)　 Deep-RIE (0)　 DRIE (0)　 EB (2)　 EB lithography (0)　 EELS (3)　 etching (0)　 EVOH (0)　 FE-SEM (5)　 FIB-SEM (0)　 FT-ICR MS (2)　 FY2022_ARIM Data FS (13)　 GC-MS (1)　 ICP-RIE (0)　 Ion Beam Sputter (0)　 Ion milling (0)　 IPYS (1)　 IR (0)　 i線ステッパ (0)　 LC-MS (1)　 Li-ion battery (2)　 Lift-off (0)　 Lithography (0)　 MALDI-TOF/TOF MS (1)　 maskless (0)　 MEMSデバイス (0)　 MLA150 (2)　 MoS2 (0)　 Mössbauer (1)　 NaCl (1)　 NMR (7)　 PA (0)　 photolithography (0)　 Plasma etching (0)　 Process flow (0)　 PYS (0)　 QST (3)　 Quartz (0)　 RIE (0)　 Si (0)　 single layer lift-off photoresist (0)　 SIPR9684-3.0 (0)　 SOI (2)　 SOI (Silicon on Insulator) (1)　 SPring-8 (5)　 sputter (5)　 Sputtering (0)　 sputtering (0)　 STEM (5)　 SU-8 (0)　 taper (0)　 TDMR (0)　 TEM (12)　 THMR-iP5700 HP (1)　 TiO2 (0)　 undercut (0)　 UV (0)　 Wet cleaning_etch (0)　 XPS (7)　 XRD (5)　 X線回折 (0)　 アスベスト (0)　 アンダーカット (0)　 イオンミリング (0)　 エッチング時間 (0)　 エリプソメータ (2)　 エリプソメーター (0)　 カーボンデータベース (2)　 ガスセンサ (0)　 ガンマ線制御 (0)　 ケイ酸塩ガラス (0)　 スパッタ (0)　 スピントロニクス (0)　 スピン制御 (0)　 スピン転移 (0)　 ダイヤモンドアンビルセル (0)　 テーパー (0)　 ナノシート (0)　 ナノチューブ (0)　 ナノワイヤ (1)　 ナノ多孔体 (0)　 ナノ粒子 (0)　 バイオセンサ (0)　 パシベーション (0)　 フォーカス (3)　 フォトリソ (0)　 フォトリソグラフィ (0)　 フォトレジスト (2)　 ブレンド (0)　 ペプチド (1)　 ペリドタイトガラス (0)　 ボッシュプロセス (2)　 ポリアミド (0)　 マイクロテクスチャ (0)　 マイクロ流路 (0)　 メスバウアー分光 (0)　 ラマン散乱分析装置 (0)　 リソグラフィ (5)　 リフトオフ (0)　 レオロジー (1)　 ワイドギャップ半導体 (0)　 におい (0)　 ひずみ依存性 (0)　 ひずみ硬化性 (0)　 らせん高分子 (0)　 一軸伸長粘度 (0)　 界面荒れ (2)　 機能性セラミックス (0)　 共押出 (1)　 共焦点レーザー走査型顕微鏡 (0)　 局所構造 (0)　 原子薄膜 (0)　 光子相関時間測定 (0)　 抗菌 (0)　 高圧実験 (0)　 高速デバイス (1)　 高度デバイス (6)　 高度循環マテリアル (11)　 高濃度BドープSi (1)　 高濃度BドープSi、SOI (Silicon on Insulator) (4)　 高品質プロセス材料 (0)　 高品質プロセス材料/技術 (0)　 資源回収 (0)　 次世代半導体 (0)　 磁気構造 (0)　 磁性 (0)　 周波数依存性 (1)　 伸長粘度 (0)　 成膜 (5)　 静電駆動デバイス (4)　 赤外・可視・紫外分光 (0)　 走査プローブ顕微鏡 (0)　 多層フィルム (1)　 単層リフトオフレジスト (0)　 担持金属触媒 (0)　 断面形状 (6)　 地球マントル物質 (0)　 中間生成物 (1)　 鋳型 (0)　 超多層フィルム (0)　 超電導材料 (0)　 超分子 (2)　 鉄スピン転移 (0)　 鉄鋼材料 (0)　 電荷秩序配列 (0)　 電気伝導度 (0)　 電極材料 (0)　 電子顕微鏡 (0)　 電子分光 (0)　 粘弾性 (1)　 薄膜 (0)　 薄膜細配線 (0)　 薄膜細配線形成 (0)　 微細加工 (7)　 微粒子 (0)　 標準試料 (20)　 表面・界面・粒界制御 (0)　 分岐高分子鎖 (0)　 放射光 (0)　 膜厚 (4)　 有機合成 (1)　 量子効果 (0)　 量子効果デバイス (0)　 ⁵⁷Fe (1)　 （主 / Main）加工・デバイスプロセス（副 / Sub）計測・分析 (0)