日時
2025年7月3日（木）13:00-16:00
開催方式
ウェビナー形式によるオンライン講義（インターネット配信）
主催
東京大学・リガク産学連携室、東京大学マテリアル先端リサーチインフラ
定員
500名（事前登録制）
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_WDnA8Cy4TL-Y5BFGxO9FFQ#/registration
※定員となり次第、申込みを締め切らせて頂きます。
詳細
初心者編『薄膜X線回折法の基礎とアプリケーション紹介』
薄膜X線回折法にこれから挑戦する方・初心者の方、薄膜試料のX線回折法での基本的な測定を行いたい方向けのセミナーです。
■基礎編講義 13:05-14:30（14:20-14:30 質疑応答）
【講師】山本 泰司（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ XRD分析グループ）
【内容】X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末X線回折法との違い、薄膜評価用X線回折装置の装置構成などをご説明します。続いて、最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用したアウトオブプレーン測定（2θ/ωスキャン）をご紹介します。
■応用編講義 14:40-16:00（15:50-16:00 質疑応答）
【講師】長尾 圭吾（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ XRD分析グループ）
【内容】微小角入射X線回折法であるGI-XRD測定（2θスキャン）、インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説します。
※本セミナー内容にX線反射率測定は含まれません。
※粉末X線回折のセミナーを6/5（木）に行います。こちらもぜひご参加ください。
お問い合わせ
株式会社リガク営業本部 担当：残間（ザンマ）
E-mail：info-gsm(at)rigaku.co.jp
または
東京大学ARIM 飯盛 桂子（イサガイ ケイコ）
E-mail：isagai(at)g.ecc.u-tokyo.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
ホームページ
東京大学・リガク産学連携室
[URL] https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku
[URL] https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku/02-sangaku-seminer-xrd-summer-20250703
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。
