マテリアルDXによる新しい材料開発

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新着のデータ

data040R002
JAMP-9500FによるAESの電子線照射損傷測定-常温法データセット (1835データ)
2025-04-24
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LCO正極
電極材料の微構造観察
2025-02-21
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step(20um)B-profile
ステップ状の薄膜試料における成膜状態の確認
2025-02-13
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TEM観察用薄片の採取位置を示すSEM像.png
FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製_Quanta
2025-02-13
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薄片化した試料のSEM像.png
FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製_VERSA
2025-02-13
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data046R003
JAMP-9500FによるAESの電子線照射損傷測定-冷却法データセット (890データ)
2024-12-31
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FA.png
腐植物質であるフルボ酸の分析
2024-12-20
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24NM2201-NM208-02_Si-Angle-data022.A.png
JAMP-9500FによるAESの角度分解測定データセット (280データ)
2024-12-17
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24NM2201_NM208-01_Si-data027.A.png
JAMP-9500FによるAESの一般測定データセット (1295データ)
2024-12-17
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DHB_0_D1_1_1SLin
MALDI法を用いたポリカーボネートを構成する主鎖骨格構造及び末端基解析
2024-12-16
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MLA150におけるフォーカスの再現性とフォーカスシフトの検証

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