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“OS-001“ で検索した結果 19件
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- 24OS0001
- 半導体レーザ素子の平面TEM観察
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0002
- 化合物半導体デバイスの分析
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0003
- 先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0015
- 半導体デバイスの構造解析
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0018
- 金属材料のTEM観察
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0033
- ガラス、セラミックス、金属中に形成した微構造の観察
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0047
- ワイドギャップ系薄膜材料の結晶性評価
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 23OS0008
- 半導体デバイスの構造解析
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0010
- 先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0013
- 化合物半導体デバイスの分析
- 2024.7.25
- 大阪大学