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“OS-001“ で検索した結果 24件

表示件数

25OS0004
ガラス、セラミックス、金属中に形成した微構造の観察
2026.6.12
大阪大学
25OS0007
コンクリートの遅延エトリンガイト生成(DEF)機構の解明
2026.6.12
大阪大学
25OS0024
先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
2026.6.12
大阪大学
25OS0064
GaAs、InP単結晶基板研磨面の超高圧電子顕微鏡観察
2026.6.12
大阪大学
25OS0068
SiC半導体におけるバイポーラ劣化現象に伴う接合リーク部の結晶構造観察
2026.6.12
大阪大学
24OS0001
半導体レーザ素子の平面TEM観察
2025.6.10
大阪大学
24OS0002
化合物半導体デバイスの分析
2025.6.10
大阪大学
24OS0003
先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
2025.6.10
大阪大学
24OS0015
半導体デバイスの構造解析
2025.6.10
大阪大学
24OS0018
金属材料のTEM観察
2025.6.10
大阪大学
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