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“OS-001“ で検索した結果 24件
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- 25OS0004
- ガラス、セラミックス、金属中に形成した微構造の観察
- 2026.6.12
- 大阪大学
- 25OS0007
- コンクリートの遅延エトリンガイト生成(DEF)機構の解明
- 2026.6.12
- 大阪大学
- 25OS0024
- 先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
- 2026.6.12
- 大阪大学
- 25OS0064
- GaAs、InP単結晶基板研磨面の超高圧電子顕微鏡観察
- 2026.6.12
- 大阪大学
- 25OS0068
- SiC半導体におけるバイポーラ劣化現象に伴う接合リーク部の結晶構造観察
- 2026.6.12
- 大阪大学
- 24OS0001
- 半導体レーザ素子の平面TEM観察
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0003
- 先進電子顕微鏡群を利用した半導体デバイスの各種解析
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0015
- 半導体デバイスの構造解析
- 2025.6.10
- 大阪大学
- 24OS0018
- 金属材料のTEM観察
- 2025.6.10
- 大阪大学