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“NI-011“ で検索した結果 11件

表示件数

23NI1102
表面改質処理後のフィルム表層のTOF-SIMS深さ分析
2026.4.30
名古屋工業大学
22NI1102
TOF-SIMS測定のための細胞前処理法の比較
2025.7.7
名古屋工業大学
24NI1101
Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析1
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1103
Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析2
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1106
TOF-SIMSを用いた金電極表面の分子の調査
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1107
TOF-SIMSを用いた内包錯体の有無の確認
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1110
Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析3
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1111
TOF-SIMSによるFeCoPt系積層磁石における拡散状態の測定
2025.6.10
名古屋工業大学
24NI1113
母材の影響によるプライマー剥離現象の研究
2025.6.10
名古屋工業大学
23NI1101
「ヘマタイト/珪酸リチウム」からなる2層膜の電界による磁気特性の制御
2024.7.25
名古屋工業大学
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