利用報告書検索
“NI-011“ で検索した結果 10件
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- 22NI1102
- TOF-SIMS測定のための細胞前処理法の比較
- 2025.7.7
- 名古屋工業大学
- 24NI1101
- Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析1
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1103
- Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析2
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1106
- TOF-SIMSを用いた金電極表面の分子の調査
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1107
- TOF-SIMSを用いた内包錯体の有無の確認
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1110
- Ar-GCIBを用いたTOF-SIMSによる有機材料の深さ方向分析3
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1111
- TOF-SIMSによるFeCoPt系積層磁石における拡散状態の測定
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 24NI1113
- 母材の影響によるプライマー剥離現象の研究
- 2025.6.10
- 名古屋工業大学
- 23NI1101
- 「ヘマタイト/珪酸リチウム」からなる2層膜の電界による磁気特性の制御
- 2024.7.25
- 名古屋工業大学
- 22NI1101
- 高分子表面のTOF-SIMS測定
- 2023.8.1
- 名古屋工業大学