利用報告書検索
“BA-026“ で検索した結果 22件
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- 24BA0003
- 酸化物半導体材料の電子状態の観察
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0005
- 新規アプリケーションとして利用可能な機能性薄膜の成長条件の探査
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0009
- 走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0013
- ガラス基板上へのBaSi2膜の堆積と評価
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0017
- 多機能走査型X線光電子分光分析装置を用いた環境半導体ナノ粒子薄膜のバンド構造解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0019
- フッ素系ポリマーの表面分析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0028
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0033
- UPS/LEIPS測定によるCNT複合体のバンドギャップ解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0038
- PHI VersaProbe4を用いた有機半導体薄膜のエネルギーレベルの測定
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0040
- 光電子分光分析装置を用いた有機半導体薄膜のエネルギー準位測定
- 2025.6.10
- 筑波大学