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“BA-018“ で検索した結果 9件
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- 24BA0011
- TEM/AFMを用いた超高速計測技術の研究
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0029
- イオンミリングを利用したSEM観察用各種材料の表面研磨、断面研磨
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0030
- 磁性半導体、トポロジカル絶縁体の薄膜の計測、デバイス加工
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0052
- IM4000イオンミリング装置を利用したSEM試料断面の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 23BA0035
- イオンミリングによる材料の表面及び断面研磨
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0051
- IM4000イオンミリング装置を利用したSEM試料断面の作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 22BA0040
- イオンミリング装置を利用した各種材料の表面研磨、断面試料の作製
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0036
- イオンミリングによるダイヤモンド電界放出電子源の試作
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0029
- 走査型電子顕微鏡を用いたプラズマ照射された金属の表面・断面観察
- 2023.7.28
- 筑波大学