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“AT-501“ で検索した結果 23件

表示件数

24AT5007
陽電子消滅法を用いたトポロジカル物質の結晶欠陥評価に関する研究
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5032
陽電子消滅法によるイオン照射高分子の構造変化の解析
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5037
絶縁膜の評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5038
陽電子消滅による配線材料の評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT5054
ペロブスカイト薄膜の陽電子消滅寿命分光
2025.6.10
産業技術総合研究所
23AT5043
陽電子消滅による配線材料の評価
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT5044
酸化膜の評価
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT5061
酸窒化クロムエピタキシャル膜の陽電子寿命測定
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT5062
ドップラーブロード二ングによって調べるp型半導体ヨウ化銅のZn添加効果
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT5063
CuIの陽電子消滅寿命測定
2024.7.25
産業技術総合研究所
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