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“AT-501“ で検索した結果 23件
表示件数
- 24AT5007
- 陽電子消滅法を用いたトポロジカル物質の結晶欠陥評価に関する研究
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5032
- 陽電子消滅法によるイオン照射高分子の構造変化の解析
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5037
- 絶縁膜の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5038
- 陽電子消滅による配線材料の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT5054
- ペロブスカイト薄膜の陽電子消滅寿命分光
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 23AT5043
- 陽電子消滅による配線材料の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5044
- 酸化膜の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5061
- 酸窒化クロムエピタキシャル膜の陽電子寿命測定
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5062
- ドップラーブロード二ングによって調べるp型半導体ヨウ化銅のZn添加効果
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5063
- CuIの陽電子消滅寿命測定
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所