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“AT-063“ で検索した結果 17件
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- 24AT0130
- 酸化物半導体デバイスに関する研究
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0175
- High-k 材料の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0230
- ALD法によるSiO2膜またはSiN膜の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 23AT0082
- Ge (111)のドライエッチング
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0088
- Investigation of microstructure, composition and passivation performance of silicon nitride, silicon oxide, and titanium nitride thin films
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0118
- 導波路結合型超伝導光子検出器の研究
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0197
- ALD法によるSiO2膜またはSiN膜の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0229
- ナノカーボン材料のデバイス作製と評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0280
- 新材料ゲートスタック基盤の形成
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0396
- High-k材料の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所