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“AT-063“ で検索した結果 17件

表示件数

24AT0130
酸化物半導体デバイスに関する研究
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0175
High-k 材料の評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
24AT0230
ALD法によるSiO2膜またはSiN膜の評価
2025.6.10
産業技術総合研究所
23AT0082
Ge (111)のドライエッチング
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0088
Investigation of microstructure, composition and passivation performance of silicon nitride, silicon oxide, and titanium nitride  thin films
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0118
導波路結合型超伝導光子検出器の研究
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0197
ALD法によるSiO2膜またはSiN膜の評価
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0229
ナノカーボン材料のデバイス作製と評価
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0280
新材料ゲートスタック基盤の形成
2024.7.25
産業技術総合研究所
23AT0396
High-k材料の評価
2024.7.25
産業技術総合研究所
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