利用報告書検索
“AT-031“ で検索した結果 66件
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- 24AT0032
- GeOI FinFETによるクライオCMOSの評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0080
- キャリア輸送材料の開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0103
- L/S patternに対するALD-SiO2 processを用いた埋め戻しによるPattern size低減の検討
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0114
- 膜転写によるGe1-xSnx OI基板の作成
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0127
- 原子層堆積装置を用いたALD成膜実験
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0158
- 貴金属プリカーサ分子の基板表面反応に関する研究
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0169
- Graphene/h-BN/Ni積層構造平面型電子放出デバイスの開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0175
- High-k 材料の評価
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0181
- プラズマ処理
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0207
- 成膜技術開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所