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“AT-030“ で検索した結果 24件
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- 24AT0120
- 次世代赤外線検出器の研究開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0145
- Investigation of microstructure, composition and passivation performance of silicon nitride, silicon oxide, and titanium nitride thin films
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0169
- Graphene/h-BN/Ni積層構造平面型電子放出デバイスの開発
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0187
- 高アスペクト比TSVでの充填メッキ用絶縁用SiO2膜及びシード層メタルの形成
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 24AT0275
- 単分子誘電体不揮発性メモリの微細化
- 2025.6.10
- 産業技術総合研究所
- 23AT0053
- 半導体デバイスの作製
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0078
- シリコン酸化膜のドライエッチング
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0088
- Investigation of microstructure, composition and passivation performance of silicon nitride, silicon oxide, and titanium nitride thin films
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0123
- TEOS-CVDにより成膜したSiO2膜の耐圧評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT0231
- ALDによる金属薄膜成膜
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所