【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.16】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24NU0098

利用課題名 / Title

酸化セリウム粉末の露出結晶面観察　

利用した実施機関 / Support Institute

名古屋大学 / Nagoya Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-

キーワード / Keywords

光デバイス/ Optical Device,電子顕微鏡/ Electronic microscope,電子回折/ Electron diffraction,電子分光/ Electron spectroscopy

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

高島 舞

所属名 / Affiliation

名古屋大学 大学院工学研究科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

樋口　公孝

利用形態 / Support Type

（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NU-102：高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

露出結晶面を精密に制御した酸化セリウム光触媒材料の露出結晶面を，収差補正電子顕微鏡を用いて調査する．

実験 / Experimental

種々の方法により露出結晶面を精密に制御した酸化セリウムを調製した（5種類）．また，市販酸化セリウムを準備した（5種類）半導体：酸化セリウム粉末．

結果と考察 / Results and Discussion

試料によるが概ね数十nm程度のサイズであった．また市販品の酸化セリウム結晶と比較して、調整した酸化セリウム結晶と比較することも出来た．5種類試料でそれぞれ結果に違いが出たことによりこれからの実験の進め方の知見を得ることができ、次年度以降、試料作製の調整を進め効率の良い試料作製法を検討していく予定である．

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件