利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.05.07】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24NU0222

利用課題名 / Title

薄膜の変形を利用した凹凸パターンの形成

利用した実施機関 / Support Institute

名古屋大学 / Nagoya Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

ナノワイヤー・ナノファイバー/ Nanowire/nanofiber,蒸着・成膜/ Vapor deposition/film formation,スパッタリング/ Sputtering


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

永島 壮

所属名 / Affiliation

名古屋大学大学院工学研究科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

大久保 建

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

本田 杏奈

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術補助/Technical Assistance


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NU-205:3元マグネトロンスパッタ装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

軟質基板に密着した硬質薄膜に面内圧縮応力が作用すると,面外変形に起因した凹凸パターンが膜の表面に形成する。表面不安定と呼ばれるこの現象は,機能表面の創成や器官に見られる自律パターンの形成機構解明に結びつくとして注目されている。本研究は,様々な薄膜とエラストマー基板から成る構造体を作製し,単軸あるいは二軸圧縮により表面不安定現誘起して凹凸パターンを形成することを目的とし,本課題では,名古屋大学の3元マグネトロンスパッタ装置を利用して薄膜を作製し,凹凸パターンの形成・評価を実施した。

実験 / Experimental

私製応力負荷装置に取り付けたポリジメチルシロキサン(PDMS)基板の表面に金あるいは二酸化ケイ素薄膜を形成した。このとき,成膜時間により膜厚を調節した。上記私製応力負荷装置を用いて薄膜に面内圧縮ひずみを付与し,表面形状の変化を顕微鏡により定量評価した。

結果と考察 / Results and Discussion

本報告書では,二軸圧縮において得られた代表的な結果について述べる。薄膜の厚さを5-20 nmで変化させ,二軸圧縮ひずみの比率を0-1.5で変化させたところ,リンクルがジグザグ状に配列した「ヘリンボーン」が得られた。特に,膜厚の変化により,ヘリンボーンの波長,振幅,周期をそれぞれ1.6-3.4 µm,0.33-0.86 µm,3.5-9.9 µmで制御できた.さらに,予ひずみ比を変化させると,ヘリンボーンの屈曲角を43°-180°で制御できた。以上の結果は,膜厚と二軸圧縮ひずみ比を変化させることにより,様々なヘリンボーンを獲得できることを示す。今後は,作製したヘリンボーンの表面特性の評価や機能性表面への展開が期待される。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

本研究は,JST創発的研究支援事業JPMJFR222Kの助成を受けて実施され,装置の利用に際しては,名古屋大学未来材料・システム研究所高度計測技術実践センターの本田杏奈先生にご指導いただきました。ここに記して感謝申し上げます。


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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