【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.21】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24UT0243

利用課題名 / Title

無電解めっきによる鉄ニッケル合金皮膜の溶液の開発

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-

キーワード / Keywords

電磁波遮断材,電子分光/ Electron spectroscopy

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

谷口 和子

所属名 / Affiliation

メルテックス株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

アティカ ビンティ ジャスニ,渡口　繁

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

沖津　康平

利用形態 / Support Type

（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-308：多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS)with AES

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

電子機器の磁気シールド法については、筐体にFe/Ni合金の圧延材またはテープ材にてシールドを行っているが、電子機器の小型化対応に限界が来ている。そこで無電解めっき処理によりFe/Ni皮膜を処理できれば小型化への対応が期待できる。そのため無電解処理からFe/Ni合金が得られるか、また各浴種の無電解めっき試料と圧延材において、その組成や不純物濃度に違いがあるかどうかを確認する分析を実施した。

実験 / Experimental

比較用市販圧延箔、浴種の異なる無電解Fe/Ni試料４種類について、Fe/Ni組成と不純物成分に違いが有るかどうかを、多機能走査型X線光電子分光分析装置XPS with AES VersaProbe Ⅲで分析した。

結果と考察 / Results and Discussion

圧延材と無電解めっき処理品との比較では、FeおよびNi組成のピーク位置や強度に大きな違いは見られなかった。不純物分としては圧延材でNの含有量が多く、逆に無電解めっき処理品には見られなかったため、無電解めっき処理品でも不純物分の少ない組成も十分なFe/Ni膜が得られている結果となった。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

表1.圧延材および各無電解処理浴からのFe/Ni合金膜の組成分析結果

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：1件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：1件