【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.13】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24UT0096
利用課題名 / Title
Mg2SiO4とCaMgSi2O6から成る多結晶体の結晶軸選択配向
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
フォルステライト(Mg2SiO4), ダイオプサイド(CaMgSi2O6), EBSD,電子顕微鏡/ Electronic microscope,電子回折/ Electron diffraction
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
吉松 彩
所属名 / Affiliation
東京大学大学院理学系研究科地球惑星科学専攻
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術補助/Technical Assistance
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
UT-103：高分解能走査型電子顕微鏡
UT-102：高分解能走査型分析電子顕微鏡
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
この研究は、フォルステライト(Mg2SiO4)とダイオプサイド(CaMgSi2O6)から成る多結晶体の配向実験を行い、フォルステライトの配向メカニズムについて解釈を行うことを主目的としている。実験前後の微細構造の変化をSEM観察するためにJSM-7800Fを、また試料の配向を電子後方散乱回折法(EBSD)により測定するためJSM-7000Fを用いた。
実験 / Experimental
カンラン石(フォルステライト(Mg2SiO4))とダイオプサイド(CaMgSi2O6)から成る多結晶体を合成し、高温で単純せん断実験を行うことにより、マントル対流で形成される最も一般的なカンラン石配向タイプであるA-typeの再現を行う。実験後EBSDによって配向タイプを確認したのち、その配向した試料を様々な角度から切り出す。さまざまな角度で切り出した試料を用いてさらに圧縮実験を行い、A-type試料の変形メカニズムについて解釈を行う。
結果と考察 / Results and Discussion
EBSDによりA-typeの試料が作成できたことが確認され、SEMによりその粒子形についても観察できた。A-type試料から切り出したもののうち、カンラン石のb軸が圧縮方向と45度を成す試料が最も変形しやすいことがわかった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件