【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.09】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24UT0062
利用課題名 / Title
材料特性を決める無機材料界面の構造解析
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電極材料/ Electrode material,電子顕微鏡/ Electronic microscope
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
下山田 篤史
所属名 / Affiliation
古河電気工業株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
佐々木 宏和
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
森田 真理,押川 浩之
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
UT-001：低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡
UT-005：原子分解能元素マッピング構造解析装置
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
Cu-Ni-Si合金は、電子部品のリードやコネクタなどで使用され、要求特性が高まっている。銅母相中のNi-Si系化合物が特性に大きく影響するため、これまで、析出相の形状、大きさ、結晶構造などの解析を行った。Cu母相とNi2Si析出相の界面の解析手法として、収差補正STEMによる高分解能観察が重要であり、界面状態の評価が可能である。
実験 / Experimental
観察試料：CuNiSi合金 TEM試料作製方法：FIBによる薄膜化 TEM、STEM観察：NEOARM,JEM-ARM200 ThermalFE(STEM SDD) 観察方法：HAADF-STEM BF-STEM EDX分析
結果と考察 / Results and Discussion
図1に収差補正STEMによる観察結果を示す。試料は溶体化処理したCu-Ni-Si合金である。析出相は観察されずCuの格子が観察される。今後、熱処理した合金を観察し、母相と析出相の界面の高分解能観察やEDX分析を検討する。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
Fig. 1 HAADF-STEM image of Cu matrix.
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件