【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.04.06】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24NM5233
利用課題名 / Title
単結晶電極を用いた高機能性電気化学反応場の探索
利用した実施機関 / Support Institute
物質・材料研究機構 / NIMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電気化学測定,X線回折/ X-ray diffraction,電極材料/ Electrode material
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
久米田 友明
所属名 / Affiliation
物質・材料研究機構
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
Laueカメラ（背面反射Laue法）を用いて、金属単結晶電極作製のための結晶方位を決定した。
実験 / Experimental
Laueカメラ用ステージにサンプルをセットし、電圧30 kV、電流35 mAでX線を3分間照射した。反射したX線パターンをイメージングプレートに記録し、読取装置で画像化した。
結果と考察 / Results and Discussion
自作した白金単結晶ビーズの背面反射Laue測定を行った。その結果、対称的なLaueパターンが得られ、サンプルの結晶性が十分に高いことを確認した。サンプルの傾きを調整しながらLaueパターンの撮影を繰り返すことで、目的とする結晶方位を得ることに成功した。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件