利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.04.05】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24NM0173

利用課題名 / Title

農業用高感度センサの開発

利用した実施機関 / Support Institute

物質・材料研究機構 / NIMS

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials

キーワード / Keywords

MoS2二次元ナノシート,X線回折/ X-ray diffraction,センサ/ Sensor


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

金 冑男

所属名 / Affiliation

農業・食品産業技術総合研究機構

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NM-204:多目的X線回折装置_Cu_SSL


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

シリコン酸化膜上のMo薄膜を気相化学蒸着法による硫化で、配向性を制御したMoS2薄膜の作製を目的とし、薄膜の均一配向性を確認・評価するために、2次元検出器を有するXRDを用いて、配向度の評価を行った。
その結果、作製したMoS2薄膜の配向には大きな分布があることが分かった。これは表面付近に存在するランダム配向層を観測しているものと考えており、今後は、より詳しい調査が必要である。

実験 / Experimental

シリコン酸化膜上のMo薄膜を気相化学蒸着法による硫化により、基板に対して垂直及び水平方向に成長させたMoS2薄膜に対して、2次元検知器を有するXRDにより測定を行った。(SmartLab 9 kW)

結果と考察 / Results and Discussion

測定結果として、MoS2二次元ナノシートの配向は、0度付近が最も強いが、同時に、幅広い範囲で配向して存在していることが明らかとなった。一方で、TEM分析において得られたナノシートの傾きが±15度以内に収まっていることとは異なっている。
これらは、表面に形成されるランダム配向層による可能性が高い。今後は、反応性イオンエッチングなどでランダム層を有する表面を切り取り、より詳しい調査を行う予定である。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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