【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.28】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24NU0016

利用課題名 / Title

多元系合金材料の研究

利用した実施機関 / Support Institute

名古屋大学 / Nagoya Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-

キーワード / Keywords

ハイエントロピー合金/High entropy alloys,電子顕微鏡/ Electronic microscope,電子回折/ Electron diffraction,高品質プロセス材料/技術/ High quality process materials/technique,集束イオンビーム/ Focused ion beam

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

加藤 隆彦

所属名 / Affiliation

名古屋大学 未来社会創造機構 マテリアルイノベーション研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

トヨタ自動車株式会社　射場英紀

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

中尾　知代,荒井　重勇

利用形態 / Support Type

（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NU-102：高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
NU-103：高分解能透過電子顕微鏡システム
NU-105：バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム
NU-106：試料作製装置群

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

・利用目的： トヨタ自動車株式会社と名古屋大学で研究開発を進めている「多元系合金材料」の微細組織、結晶構造、結晶組成などの同定を目的とする。・概要/内容：3～6元系の元素から構成される多元系合金に含まれる金属・合金相を同定し、得られた情報を、別途実施する合金の特性、電気抵抗測定、XRD結晶構造解析などと照合することにより、良好な機能を有する新規な合金相の探索研究に用いる。

実験 / Experimental

以下の実験を特定の限定された試料において実施する。１． SEM/EDS観察・分析により、上記合金を構成する微細組織、組成分布等を同定する。２． SEM/EDSから、より局所的な目的領域を特定し、TEM微細組織観察・結晶構造同定（電子線回折像取得と回折像のIndexing、格子定数解析含む）、TEM/EDS・STEM組成分析（Titan含む）を実施する。３． 原子レベルの像と組成（格子像、構造像（HAADF）を含む））を取得し、結晶微細構造を同定する。

結果と考察 / Results and Discussion

機能性合金として、6元系（Cu-Ag多元系）合金を供試材として選び、FIB試料作製、SEM観察・EDX分析、TEM観察・EDX分析、電子線回折パターン取得・指数付けなどの解析を実施した。主な結果をFig. 1～Fig. 16に示す。これらの観察・解析データと、別途保有する合金の機能データとを照合することにより、Cu-Ag系の新たな合金相４つを見出すことができた。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

Fig. 1　FIB面のSEM像（その１）

Fig. ２　FIB面のSEM像（その２）

Fig. ３　FIB面のSEM像（その１）のEDX面分析結果

Fig. ４　視野１におけるEDX元素マッピング結果

Fig. ５　視野２におけるEDX元素マッピング結果

Fig. ６　視野２（続き）におけるEDX元素マッピング結果

Fig. ７　視野２（続き）におけるEDX元素マッピング結果

Fig. ８　視野３におけるEDX元素マッピング結果

Fig. 9　FIB試料の作製とTEM観察，EDS分析結果

Fig. 10　TEM電子線回折パターン解析に用いたカメラ長の測定結果

Fig. 11　TEM電子線回折パターン解析エリアのEDXマッピング結果

Fig. 12　TEM電子線回折パターン取得結果

Fig. 13　TEM電子線回折パターンの解析結果（その１）

Fig. 14　TEM電子線回折パターンの解析結果（その２）

Fig. 15　TEM電子線回折パターンの解析結果（その３）

Fig. 16　TEM電子線回折パターンの解析結果（その４）

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

　名古屋大学ARIM事業の荒井重勇先生、中尾知代様、依田香保留様には、本研究データの取得に際し、高度なデータ取得方法と解析手段を用い、全面的にご協力戴いた。ここに心から感謝の意を表します。

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件