【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.21】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24NR3017
利用課題名 / Title
摺動界面における化学状態の観察
利用した実施機関 / Support Institute
奈良先端科学技術大学院大学 / NAIST
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル/Multi-material technologies / Next-generation high-molecular materials（副 / Sub）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies
キーワード / Keywords
トライボロジー,資源代替技術/ Resource alternative technology,電子分光/ Electron spectroscopy
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
小野 美奈
所属名 / Affiliation
スターライト工業株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
堀内秀樹
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
石原綾子
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
ピンオンディスク試験にて摺動試験を実施した樹脂ピン試料と金属ディスク試料の摺動界面に、どの様な移着膜が形成されているかを分析することで、摩擦・摩耗挙動を把握することを目的とした。移着膜の分析には表面分析が可能なXPSを用いた。
その結果、表面汚染層や樹脂ピンと金属ディスクの反応により形成された移着膜の検出に至った。
実験 / Experimental
ピンオンディスクによる摺動試験後の樹脂ピンと金属ディスクの最表面を、多機能走査型X線光電子分光分析装置（XPS）（ULVAC-PHI PHI5000VersaProbeⅡ）にて測定した。摺動試験は常温と150℃の2条件にて実施した。XPSの測定は、アルゴンイオン銃によるイオンエッチングを行うことで、深さプロファイルを得た。
結果と考察 / Results and Discussion
摺動面には、試験後の汚染により生じたと思われる酸化膜の形成が確認された。
また、樹脂ピンと金属ディスクのいずれの表面からも、両材の反応物が検出され、その成分の検出量は表面ほど多く、内部に行くほど少ないことが分かった。これより両材の摺動界面には、摺動により生成した移着膜が形成されていることが分かった。
尚、摺動温度違いによる成分の差異は認められなかった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件