【公開日：2025.06.10】【最終更新日：2025.05.01】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
24UT1244
利用課題名 / Title
バイオセンサにおける機能薄膜の厚さ・表面荒さの検討
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
センサ/ Sensor,走査プローブ顕微鏡/ Scanning probe microscope
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
坂田 利弥
所属名 / Affiliation
東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
バイオセンサの電極表面における機能膜の特性評価を走査型プローブ顕微鏡を用いて行う。
実験 / Experimental
電極表面に成膜したポリセロトニン薄膜の膜厚や荒さ測定をAFMで行った(図1)。ポリセロトニン薄膜の成膜には、セロトニンモノマーを5 mMとし電極表面で8 h作用させることで成膜した。
結果と考察 / Results and Discussion
ポリセロトニン薄膜の膜厚が数nm程度と極薄のため、現状では薄膜化しているか島状に成膜されているかが、元の電極表面（Ta2O5)に対し十分観察することは困難であることがわかった。今後は、成膜温度を上げ、膜厚変化を走査型プローブ顕微鏡を用いて調査する予定である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図1 ポリセロトニン薄膜のAFM images
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件