利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.08.01】【最終更新日:2025.08.01】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22MS1086

利用課題名 / Title

金属酸化物のナノレベル構造解析

利用した実施機関 / Support Institute

自然科学研究機構 分子科学研究所 / IMS

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis(副 / Sub)計測・分析/Advanced Characterization

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies

キーワード / Keywords

表面構造, SEM,電子顕微鏡/Electron microscopy


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

浅尾 直樹

所属名 / Affiliation

信州大学繊維学部化学・材料学科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators Excluding Supporters in the Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Supporters in the Hub and Spoke Institutes

湊 丈俊,今井 弓子,伊木 志成子,上田 正,石山 修

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

MS-202:低真空分析走査電子顕微鏡


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

金属酸化物は、光触媒やガスセンサーなど多様な機能性材料として応用されており、その特性はナノレベルの構造によって大きく左右される。異なる調製条件で得られた金属酸化物粉末について、走査電子顕微鏡を用いて形態観察および組成マッピングを行い、構造と機能の相関を評価するための基礎的情報を取得した。

実験 / Experimental

複数の調製条件下で合成した金属酸化物粉末試料を対象に、表面構造および元素分布の解析を行った。各試料はカーボンテープを用いてサンプルホルダーに固定し、大気中で取り扱った。走査電子顕微鏡(Hitachi SU6600)を用い、加速電圧10 keVにて二次電子像を取得するとともに、エネルギー分散型X線分光による元素マッピングを実施した。これにより、微細構造と組成の相関を調べた。

結果と考察 / Results and Discussion

走査電子顕微鏡を用いた二次電子像の観察の結果、金属酸化物の微細構造が完全に一致しない場合があることが明らかとなった。また、エネルギー分散型X線分光マッピングからは、組成の均質性や元素偏在が試料ごとに完全には一致しない場合があることも明らかになった。金属酸化物は、微細な変化によって機能が変化する場合があることが推察され、これらの構造的・組成的違いが機能特性に影響を与える可能性が示唆された。今後はこれらの知見をもとに、機能制御に資する構造設計指針の構築が期待される。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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