利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.16】【最終更新日:2025.06.16】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22NM0074

利用課題名 / Title

ククルビットウリル誘導体を用いた分子センサーの開発

利用した実施機関 / Support Institute

物質・材料研究機構 / NIMS

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

ククルビットウリル,自己組織化単分子膜,分子センサー


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

唐 蔚

所属名 / Affiliation

東京大学生産技術研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

安福 秀幸,宮内 直弥

利用形態 / Support Type

(主 / Main)技術補助/Technical Assistance(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NM-205:飛行時間型二次イオン質量分析装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ククルビットウリル誘導体は、そのアミン類に対する識別能を有することから、ドラッグデリバリーや分子センサーの有望な候補として研究されている。本研究では、合成したククルビットウリル誘導体を電極上に修飾し、そのキャラクタリゼーションを行った。

実験 / Experimental

 利用装置名:PHI TRIFT V nanoTOF
実験方法: 修飾された基板を試料台に固定し、表面にビスマスイオン(Bi3+)を定量的に照射して、表面から放出された二次イオンを飛行時間型質量分析計で検出した。

結果と考察 / Results and Discussion

金基板には、標的物のみの質量及び金クラスターのみの質量を観測されたが、金と標的物が結合した質量は観測されなかった。これは非共有接合の結合力が足りないためにイオン衝撃によって破壊されたか、結合されていなかったと考えられる。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


図1.観測された金のクラスターと見られる質量ピーク



図2.試料台に固定した測定試料及び標準試料の写真


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

 今後の課題:金基板に固定するための修飾方法の最適化。 謝辞:本プロジェクトに大変ご協力を頂いた安福秀幸様、宮内直弥様、松下能孝様及びNIMS事務局の方々に厚く御礼申し上げます。


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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