【公開日：2025.07.07】【最終更新日：2025.07.04】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22NI0101

利用課題名 / Title

ナノ粒子集合体中の結晶方位観察

利用した実施機関 / Support Institute

名古屋工業大学 / Nagoya Tech.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed

キーワード / Keywords

硫化銅, ナノ粒子, 超格子,電子顕微鏡/Electron microscopy,ナノフォトニクスデバイス/ Nanophotonics device,ナノ粒子/ Nanoparticles

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

猿山 雅亮

所属名 / Affiliation

京都大学化学研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators Excluding Supporters in the Hub and Spoke Institutes

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Supporters in the Hub and Spoke Institutes

浅香透

利用形態 / Support Type

（主 / Main）共同研究/Joint Research（副 / Sub）,技術代行/Technology Substitution

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NI-001：原子分解能分析電子顕微鏡群

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ナノ粒子の集合体である超格子は、多様な細孔構造やナノ粒子間の協奏的機能の発現により、新規物性が期待される物質群である。超格子中でナノ粒子の結晶方位は光学特性に大きく影響するため、その制御は重要である。本研究では、高分解能電子顕微鏡を用いて、超格子中のナノ粒子の結晶方位を明らかにすることを目的とする。

実験 / Experimental

化学的液相法によって合成した硫化銅ナノ粒子の超格子をTEMグリッドに展開し、JEM-ARM200F（200 kV）で結晶格子像観察および制限視野電子線回折測定を行った。

結果と考察 / Results and Discussion

制限視野電子線回折像から、ディスク状Cu2Sナノ粒子が規則的に集合した超格子では、超格子の長軸方向と100面が垂直になるように選択配向することが分かった。これは、個々のCu2Sナノ粒子の短軸が100面と平行であり、指向的な最密充填によって超格子全体で結晶面がそろったためである。CdSナノ粒子の超格子でも同様に結晶面の配向が見られ、異方的な光学特性をもつことが期待される。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

Cu₂Sナノ粒子超格子のTEM像と制限視野電子線回折像

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

1. ナノ粒子三次元超格子の構造異方性制御、猿山雅亮; 寺西利治、第73回コロイドおよび界面化学討論会, 2022年9月22日

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件