利用報告書 / User's Reports

  • 印刷する

【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.05.16】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24KT2473

利用課題名 / Title

ガラス上のマイクロピラーの作製

利用した実施機関 / Support Institute

京都大学 / Kyoto Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル/Multi-material technologies / Next-generation high-molecular materials(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

ガラスマイクロピラー,ソーダライムガラス,リアクティブイオンエッチング, FIB加工,蒸着・成膜/ Vapor deposition/film formation,光リソグラフィ/ Photolithgraphy,膜加工・エッチング/ Film processing/etching


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

加藤 嘉成

所属名 / Affiliation

日本電気硝子株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

ロサレス グスタボ

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

木元信余

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術補助/Technical Assistance


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

KT-105:両面マスクアライナー
KT-110:レジスト現像装置
KT-111:ウエハスピン洗浄装置
KT-203:電子線蒸着装置
KT-209:磁気中性線放電ドライエッチング装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

微小圧縮試験によりガラスの塑性変形挙動を調査するため、RIEプロセスによりマイクロピラーの作製に取り組んでいる。垂直なピラーを得るために、RIEプロセスで大径のピラー(~8 umΦ)を作製しその後集束イオンビーム装置(FIB)によって柱状に加工する(→5 umφ)方針に変更した。前回、大径のピラーを作製することができた (JPMXP12-24KT1217 )。今回、作製した大径ピラーでFIBによるトリミングテストを行った。

実験 / Experimental

1. 大径マイクロピラーの作製
前報(JPMXP12-24KT1217)で作製したマイクロピラーを用いた。
・ガラス: SLSガラス  (30 x 30 x 0.7 mm)
・プロセス:
 1)Cr膜蒸着(400nm厚)(電子線蒸着装置:KT-203)
 2)レジスト塗布・露光・現像、スピンコート(TCIR-ZR8800, 5.3 um厚) (レジスト現像装置:KT-110)
   ⇒ 露光70 mJ/cm2 (PEB 110℃-90 sec) (両面マスクアライナー:KT-105)⇒ 現像SD-1 (120 sec)
 3)Crウェットエッチング
 4) REIエッチング(Antena: 1800W /Bias: 500W、Ar/O2/CHF3/C4F8: 260/15/10/10 sccm)(磁気中性線放電ドライエッチング装置:KT-209)
 5) O2 ashing & Cr ウェットエッチング

2.FIB 加工によるピラートリミング
 ・FIB  集束イオンビーム加工装置FB2200 (日立ハイテクノロジーズ)(日本電気硝子(株)所有)
 ・条件 ・加速電圧:40kV
     ・サイズを小さくしながら、ドーナツ状のパターン加工を4回繰り返す。
      (外径/内径)①12um/8.6um→②10um/7.2um→ ③8.4um/6um→④7um/5um

結果と考察 / Results and Discussion

FIB加工前後のマイクロピラーのSEM像をFigure 1 に示す(注:加工前のピラーは前報告書より抜粋した代表例であり、加工後のピラーは同一のものではない。)。圧縮試験後の解析を考慮するとピラーは垂直であることが望ましいが、FIB加工前のピラー[Figure1(a)および(b)]は上面と底部の径が大きく異なってテーパーを有しており、テーパー面も平滑でない。また、上面の周辺部にバリ状の残差が見られ、圧縮試験時に均質な荷重負荷に対する懸念があった。FIB加工後のピラー[Figure1(c)および(d)]は、テーパー角が垂直に近く、テーパー面や上面が滑らかになっている。レーザー顕微鏡およびSEMによる形状計測結果をTable1に示す。FIB加工後のピラーは、上面径4.7 um、底部5.3umでテーパー角は約86度となり、FIB加工前(~65度)と比較して大きく向上した。ピラーの根元部分にグルーブ(溝)が作製されるためターゲットよりも0.4um高いが、RIEプロセスのエッチング量とFIB加工時間で調整は可能である。今回の結果で、RIEプロセスとFIBプロセスを組合わせて寸法精度の高いマイクロピラー作製する目途をつけることができた。 

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Figure 1 SEM images of micropillars before and after the FIB trimming process. [Before:(a) and (b), After:(c) and (d)]



Table 1 Geometry of the micropillars as well as the target for the indentation tests.


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

印刷する
PAGE TOP
スマートフォン用ページで見る