利用報告書 / User's Reports

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【公開日:2025.06.10】【最終更新日:2025.05.21】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

24MS1053

利用課題名 / Title

高周波プラズマCVDによる純粋なQ-carbonの形成

利用した実施機関 / Support Institute

自然科学研究機構 分子科学研究所 / IMS

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies(副 / Sub)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed

キーワード / Keywords

Q-carbon, RFCVD,資源代替技術/ Resource alternative technology,資源使用量低減技術/ Technologies for reducing resource usage,資源循環技術/ Resource circulation technology,MEMS/NEMSデバイス/ MEMS/NEMS device


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

アブラハ ペトロス

所属名 / Affiliation

名城大学 理工学部 機械工学科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

MS-213:X線光電子分光
MS-220:SQUID (MPMS3 DC)
MS-225:顕微ラマン分光
MS-217:電子スピン共鳴(E580)
MS-227:蛍光分光


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

 炭素の新材料であるQ-carbonの研究を促進するため、RFCVDによるQ-carbonの形成を目的として、処理条件を変えてプラズマ処理した炭素膜の構造特性を評価した。非晶質炭素膜へのプラズマ処理によって、sp3含有量は未処理の44%から最大60%にまで増加したが(Table 1)、作成したすべての薄膜は反磁性を示し、Q-carbonの特性である室温での強磁性は示さなかった。RFCVDによるQ-carbon形成における先駆的な結果を示した。

実験 / Experimental

 本研究室のRFCVD装置を用いて、Q-carbonの原料となるダイヤモンドライクカーボン(a-C:H)フィルムを成膜し、バイアス電圧を変えてアルゴンプラズマを照射した。作成した試料は分子科学研究所にてX線光電子分光法(XPS)を用いてsp3含有量を定量化し、SQUID式磁化測定装置を用いてQ-carbonに特有の強磁性挙動を有するか調査された。

結果と考察 / Results and Discussion

XPSによる測定結果とsp3含有量の変化をFig.1とTable 1に示す。非晶質炭素膜へのプラズマ処理によって、sp3含有量は未処理の44%から最大60%にまで増加したが(Table 1)、作成したすべての薄膜は反磁性を示し、Q-carbonの特性である室温での強磁性は示さなかった。RFCVDによるQ-carbon形成における先駆的な結果を示した。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1 The deconvolution of the XPS narrow scan C 1s spectra of (a) Unprocessed, (b) 250 V 1 min, and (c) 100 V 5 min. 



Table 1 The content (%) of each bond from the deconvolution of the C 1s bands of the three samples. 


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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