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表示件数
- 23BA0042
- XPS装置によるSn系ペロブスカイト材料の分析
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0044
- 表面分析装置によるAFMプローブの評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0045
- (ARIM)触針式表面段差計 Alpha-Step D-500装置による膜厚の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0046
- ビームモニター用RBSターゲットの製作
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0048
- FE-SEMを用いた微細藻類の微小形態を用いた分類学的検討
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0049
- XPSを用いた窒化炭素薄膜のUPS/LIPESの測定
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0050
- パワー向けGaN HEMTに関する特性評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0051
- IM4000イオンミリング装置を利用したSEM試料断面の作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0053
- 走査型電子顕微鏡によるツボカビ細胞の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0028
- ダイヤモンドパワーデバイスの構造最適化
- 2024.7.25
- 筑波大学