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23KT0022: A sample preparation of the preferential corrosion attack area of NAB cut by FIB; 2024.7.25; 京都大学

PDF（166.28KB）
HTML

23KT1049: シリコンMEMSデバイスの作製と評価; 2024.7.25; 京都大学

PDF（739.11KB）
HTML

23KT1051: ナノギャップの熱，電気伝導特性の測定; 2024.7.25; 京都大学

PDF（1.07MB）
HTML

23KT1183: シリコンMEMSデバイスの作製と評価; 2024.7.25; 京都大学

PDF（272.31KB）
HTML

23KT1184: シリコンMEMSデバイスの作製と評価; 2024.7.25; 京都大学

PDF（410.53KB）
HTML

23KT1185: Fabrication and electro-mechanical study of nano-scale resonators; 2024.7.25; 京都大学

PDF（354.64KB）
HTML

23KT1253: Fabrication and electro-mechanical study of nano-scale resonators; 2024.7.25; 京都大学

PDF（159.08KB）
HTML

23KT1005: 接触面の形状計測; 2024.7.25; 京都大学

PDF（768.49KB）
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23KT1011: 半導体異種材料接合の研究; 2024.7.25; 京都大学

PDF（339.32KB）
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23KT1023: 共有結合性有機構造体の結晶性の評価; 2024.7.25; 京都大学

PDF（477.34KB）
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