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- 24BA0051
- XPS装置を利用した機能性材料の特性解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0052
- IM4000イオンミリング装置を利用したSEM試料断面の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0054
- デバイスシミュレーターを用いた平面型電子放出デバイスの光応答特性の解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0055
- FIB-SEMを用いたSlice and View分析によるSiC-MOSFETの故障解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0057
- CMP代替ミリング処理による半導体配線構造の簡易加工検討
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0058
- ナノ微細加工装置を用いたプラズモニック試料の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0060
- Performance Enhancement of Sn-Based Perovskite Solar Cells
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0061
- 多機能走査型X線光電子分光分析装置を利用した窒素リッチな窒化炭素のバンドアライメント観察
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24YG0073
- 共押出による超多層構造がPPフィルムの機械特性へ与える影響
- 2025.6.10
- 山形大学
- 24YG0074
- ポリブチレンアジペートテレフタレート発泡体の収縮防止法
- 2025.6.10
- 山形大学