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- 24BA0027
- スパッタ成膜アモルファス合金のパルス通電による組織変化
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0028
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0029
- イオンミリングを利用したSEM観察用各種材料の表面研磨、断面研磨
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0030
- 磁性半導体、トポロジカル絶縁体の薄膜の計測、デバイス加工
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0032
- マイクロ流体デバイスを利用した麹菌の酵素生産性に及ぼす菌糸形態変化の機構解明
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0033
- UPS/LEIPS測定によるCNT複合体のバンドギャップ解析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0034
- 共役系高分子の分析
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0035
- メゾスコピック原子層超伝導体の電気伝導測定試料の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0036
- 歪み導入グラフェン試料の作製
- 2025.6.10
- 筑波大学
- 24BA0037
- 化合物半導体による横型HBTの研究
- 2025.6.10
- 筑波大学