日時
2025年11月7日（金）13:00-17:00
場所
東京大学 浅野キャンパス 武田先端知ビル5F 武田ホール
主催
東京大学・次世代電子顕微鏡法社会連携講座
共催
東京大学・日本電子産学連携室、マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM）
定員
150名
※定員となり次第締め切り
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://forms.gle/DqP8GvrceYxvNQXq6
詳細
基本理論の解説から装置の操作に関するやや発展的な内容まで、電子顕微鏡初学者の方を対象としたセミナーです。電子線顕微鏡を利用されている方、これから利用を検討されている方に、是非ともご参加いただけますようお願いいたします。
【プログラム】
13:00-13:05 開会挨拶、オリエンテーション 東京大学大学院 工学系研究科 石川 亮
13:05-14:05 TEM の構造 日本電子株式会社 ソリューション開発センター 近藤 行人
14:05-14:45 いろいろな試料作製方法の紹介 日本電子株式会社 EM 事業 U 福永 啓一
14:45-14:55 休憩
14:55-15:35 FIBによるTEMサンプリングについて 日本電子株式会社 EP 事業 U 柴田 昌照
15:35-16:15 各種イメージング手法の紹介 東京大学・日本電子産学連携室 斎藤 光浩
16:15-16:55 EDSの基礎 日本電子株式会社 EM 事業 U 三浦 颯人
16:55-17:00 閉会挨拶
※詳細は、開催案内をご覧ください。
お問い合わせ
東京大学・日本電子産学連携室 金子・斎藤
E-mail: skaneko(at)jeol.co.jp ※(at)を@に書き換えてください。
または
東京大学 ARIM統括コーディネート室
https://lcnet.t.u-tokyo.ac.jp/contact/