日時
2026年6月22日（月）10:30-17:00
開催方式
【オンライン＋現地開催】
オンライン：WEBミーティング(Webex)
現地：北海道大学 フロンティア応用科学研究棟2階セミナー室
主催
北海道大学工学研究院共同利用施設
複合量子ビーム超高圧顕微解析研究室、光電子分光分析研究室、ナノ・マイクロマテリアル分析研究室
共催
北海道大学 マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)事業
協賛
日本金属学会北海道支部、日本鉄鋼協会北海道支部、
日本分析化学会北海道支部、日本顕微鏡学会北海道支部、
日本電子株式会社、アメテック株式会社、XPSコミュニティー
定員
なし（事前申し込み不要）
参加費
無料
詳細
第10回 北海道大学 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティングを開催いたします。
北海道大学工学研究院の共同利用施設では、表面・微小領域分析装置の一般開放を行っております。装置群はいずれも試料評価への強力なツールとなりますが、実際に使用する際には各装置の分析法の特徴を理解し、適切な選択を行うことが非常に重要となります。観察・分析技術の向上を目指し、ユーザーの皆様と施設職員の間で「材料分析に関するテクニカルな情報の共有化」を目的として、本ユーザーズミーティングを開催致します。皆様の研究の一助になれば幸いです。
【参加対象者】 微小部・表面分析に興味のある方
【プログラム】
<ユーザーズ講演>
10:35～10:50
「界面活性剤によって形状制御されたAuクラスターナノ結晶の発光特性」
北海道大学環境科学院 博士２年 佐藤 龍磨
10:50～11:05
「食肉の光散乱特性に基づく品質評価と走査型電子顕微鏡による構造観察」
北海道大学工学研究院 修士１年 中津 佑斗
11:05～11:20
「Na2SO4 を塗布したβ-NiAl合金の高温腐食挙動」
北海道大学工学研究院 博士１年 岩崎 大誠
<テクニカル講演>
11:20～12:00 「FIB-SEM System JIB-PS500i 」
日本電子株式会社 河野 一郎 氏
昼休憩(1時間)
13:00～14:30 「最近のEBSD指数付け法の進化」
アメテック株式会社 吹野 達也 氏
休憩(15分)
14:45～15:25 「XPS分析の基礎およびアプリケーションのご紹介」
日本電子株式会社 村谷 直紀 氏
15:25～16:05 「XRFの基礎と分析事例のご紹介」
日本電子株式会社 松戸 太一 氏
休憩(15分)
16:20～17:00 「EDSの基礎と定量分析のコツパート２ 」
日本電子株式会社 溜池 あかね 氏
※詳細は、開催案内をご覧ください。
お問い合わせ
北海道大学 ナノ・マイクロマテリアル分析研究室
E-mail：info-nma(at)eng.hokudai.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
