日時
2025年12月11日（木）13:00-16:00
開催方式
ウェビナー形式によるオンライン講義（インターネット配信）
主催
東京大学・リガク産学連携室、東京大学マテリアル先端リサーチインフラ
定員
500名（事前登録制）
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku/02-sangaku-seminer-xrd-winter-20251211
※定員となり次第、申込みを締め切らせて頂きます。
詳細
初心者編『薄膜Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介』
薄膜X線回折法にこれから挑戦する方・初心者の方、薄膜試料のX線回折法での基本的な測定を行いたい方向けのセミナーです。
■基礎編講義 13:05～14:30（14:20～14:30 質疑応答）
講師：山本 泰司（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ XRD分析グループ）
内容：X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末X線回折法との違い、薄膜評価用X線回折装置の装置構成などをご説明します。
続いて、最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用したアウトオブプレーン測定(2θ/ωスキャン)をご紹介します。
■応用編講義 14:40～16:00（15:50～16:00 質疑応答）
講師：長尾 圭吾（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ XRD分析グループ）
内容：微小角入射X線回折法であるGI-XRD測定(2θスキャン)、インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説します。
※本セミナー内容にX線反射率測定は含まれません。
※粉末X線回折のセミナーを11/13(木)に行います。こちらもぜひご参加ください
お問い合わせ
株式会社リガク営業本部 担当：残間（ザンマ）
E-mail：info-gsm(at)rigaku.co.jp
または
東京大学ARIM 飯盛 桂子（イサガイ ケイコ）
E-mail：isagai(at)g.ecc.u-tokyo.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
ホームページ
東京大学・リガク産学連携室
[URL] https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。
