200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
最終更新日：2025年4月16日
| 設備ID | OS-003 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡 (200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM) |
| 設置機関 | 大阪大学 |
| 設置場所 | 阪大超高圧電顕センター |
| メーカー名 | 日本電子（株） (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| キーワード | 金属、半導体、セラミックス、薄膜、ナノ粒子 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧200kV、HRTEM、収差補正STEM EDS、EELS分析機能 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=OS-003 |
