ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム
最終更新日：2024年4月8日
| 設備ID | TT-019 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 設備名称 | ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property) |
| 設置機関 | 豊田工業大学 |
| 設置場所 | 通常実験室 |
| メーカー名 | ブルカー (Bruker) |
| 型番 | Multimode顕微鏡 |
| キーワード | 走査型プローブ顕微鏡。ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム。 |
| 仕様・特徴 | ・導電性（TUNA) ・表面電位、STM機能 ・原子、分子分解能 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=TT-019 |
