高耐圧デバイス測定装置＋ 高耐圧プローバ
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | WS-022 |
|---|---|
| 分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
| 設備名称 | 高耐圧デバイス測定装置＋ 高耐圧プローバ (high votage semiconductor device analyzer) |
| 設置機関 | 早稲田大学 |
| 設置場所 | 早稲田大学121号館ナノテクノロジーリサーチセンター |
| メーカー名 | プローバ：長瀬産業株式会社（特注品）測定装置：アジレント社製B1505A (NAGASE & CO., LTD.) |
| 型番 | プローバ：長瀬産業社製（特注品） 測定装置：アジレント社製B1505A |
| キーワード | パワーデバイス用 電気特性評価 |
| 仕様・特徴 | 10K～600Kの真空環境下での高耐圧デバイス(2000V又は20A MAX)測定可能、25mmx25mm以下（測定範囲） 測定装置：アジレント社製B1505A 3000V までの電圧印加と高精度測定 最小パルス幅50 μs の 大電流モジュール（最大20 A） カーブトレーサ・モードでの デバイスのクイックチェック |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=WS-022 |
