高分解能電界放射型走査型電子顕微鏡
最終更新日：2022年4月9日
| 設備ID | HK-625 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分解能電界放射型走査型電子顕微鏡 (Field emission electron microscope) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 創成科学研究棟01-302 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-6700FT |
| キーワード | 金属ナノ構造観察 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：5-30kV EDS機能 試料サイズ：小片～25mm角 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=HK-625 |
