電界放出形走査電子顕微鏡
最終更新日：2025年4月1日
| 設備ID | HK-302 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > |
| 設備名称 | 電界放出形走査電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM)) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 工学研究院 全学共同利用施設 ナノ・マイクロマテリアル分析研究室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-6500F |
| キーワード | 表面分析 後方散乱電子回折(EBSD) |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：1kV～30kV 分析機能：EBSD |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=HK-302 |
