ゼータ電位／粒径測定システム
最終更新日：2025年12月15日
| 設備ID | KU-513 |
|---|---|
| 分類 |
膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定（動的光散乱） 膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定（動的光散乱） |
| 設備名称 | ゼータ電位／粒径測定システム (Zeta-potential and particle analyzer system) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学ウエスト3号館607 |
| メーカー名 | 大塚電子 (Otsuka Electronics) |
| 型番 | ELSZ-2 |
| キーワード | DLS、ナノ粒子、コロイド、ミセル、ゼータ電位、粒度測定 |
| 仕様・特徴 | 【ゼータ電位／粒径測定システム：ELSZ-2】 ・粒子径測定範囲（0.6-7000nm） ・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV) ・測定濃度範囲：粒径0.00001-40% ・ゼータ電位濃度範囲：0.001-40% ・(希薄、濃厚試料対応) ・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=KU-513 |
