ゼータ電位・粒径測定システム
最終更新日：2022年6月9日
| 設備ID | KT-313 |
|---|---|
| 分類 | 膜厚・粒度測定 > ゼータ電位 |
| 設備名称 | ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential & Particle Size Analyzer) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.) |
| 型番 | ELSZ-2Plus |
| キーワード | ゼータ電位測定 粒径測定 |
| 仕様・特徴 | 希薄から濃厚系試料のゼータ電位・粒子径測定が可能 ・測定範囲 ゼータ電位：-200～200mV ・電気移動度：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s ・粒子径：0.6nm～7μm |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=KT-313 |
