走査型プローブ顕微鏡システム
最終更新日：2024年4月2日
| 設備ID | KT-304 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡システム (Bioscience Atomic Force Microscope) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | JPKインスツルメンツ社 (JPK Instruments AG) |
| 型番 | NanoWizard III |
| キーワード | 原子間力顕微鏡 走査型電子顕微鏡/ Scanning electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 大気中または液体中でのAFM計測 AFM測定と光学測定を同時実行可能 ・NW3-XS-0ほか |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=KT-304 |
