走査型電子顕微鏡
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最終更新日：2025年10月31日
| 設備ID | NM-508 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査型電子顕微鏡 (Field emission scanning electron microscope) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS千現地区 精密計測実験棟212号室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-7000F |
| キーワード | 形態観察 組成分析 |
| 仕様・特徴 | ・ショットキーFEG ・加速電圧: 30 kV ・分解能：1.2nm (30kV), 3.0nm (1kV) |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=NM-508 |
