蛍光X線分析装置
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最終更新日：2026年3月31日
| 設備ID | NU-003 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線蛍光分光分析 |
| 設備名称 | 蛍光X線分析装置 (X-ray Fluorescence Analyzer) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス |
| メーカー名 | リガク社 (Rigaku) |
| 型番 | NEX CG(EXDL 300) |
| キーワード | 無機元素分析 |
| 仕様・特徴 | ・・エネルギー分散型 ・最大出力：50W ・二次ターゲット：Cu、Mo、Al、RX-9、Si ・検出器：Silicon Drift Detector ・試料サイズ：φ20 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=NU-003 |
