透過電子顕微鏡
最終更新日：2025年5月22日
| 設備ID | TU-517 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope) |
| 設置機関 | 東北大学 |
| 設置場所 | 東北大学片平キャンパス金属材料研究所 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2000EXⅡ |
| キーワード | TEM 高角度傾斜 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃) ・試料加熱ホルダー（最高温度 約800 ℃） ・試料冷却ホルダー（最低温度 約-170 ℃） |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=TU-517 |
