半導体パラメータアナライザ
最終更新日：2026年4月30日
| 設備ID | RO-516 |
|---|---|
| 分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
| 設備名称 | 半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer) |
| 設置機関 | 広島大学 |
| 設置場所 | 西棟4階 |
| メーカー名 | キーサイト (Keysight) |
| 型番 | B1500A |
| キーワード | 電気特性評価 |
| 仕様・特徴 | トランジスタ特性測定（ID-VD, ID- VG等）、HR-SMU4基内臓 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=RO-516 |
