高分解能走査透過電子顕微鏡
最終更新日：2025年6月11日
| 設備ID | TU-522 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分解能走査透過電子顕微鏡 (Scanning Transmission Electron Microscope) |
| 設置機関 | 東北大学 |
| 設置場所 | 東北大学片平キャンパス金属材料研究所 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| キーワード | STEM EDS EELS プローブコレクター CFEG |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧 200 KV/80 KV ・球面収差補正装置（照射系） ・EDS分析（検出器＝100 mm2) ・EELS分光器 エネルギー分解能 0.3 eV |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=TU-522 |
